產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
篤摯儀器（上海）有限公司
聯(lián)系人：朱經(jīng)理
手機(jī)：15921165535
電話：86-021-58951071
傳真：86-021-50473901
地址：上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
郵箱：814294500@qq.com
聯(lián)系人：朱經(jīng)理
手機(jī)：15921165535
電話：86-021-58951071
傳真：86-021-50473901
地址：上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
郵箱：814294500@qq.com
相關(guān)文章
- 泰勒Surtronic R-100 圓度儀信息
- 德國(guó)弗勞恩霍夫3MA PHS無(wú)損檢測(cè)技術(shù)信息
- 針描法馬爾表面粗糙度儀各組成部件特征
- 弗勞恩霍夫3MA微磁測(cè)量系統(tǒng)方法信息
- 美國(guó)雷泰Raynger 3i系列測(cè)溫儀使用說(shuō)明
- 感應(yīng)淬火硬化層深度無(wú)損測(cè)量解決方案
- 英國(guó)Taylor粗糙度儀S116特點(diǎn)信息
- P3123無(wú)損檢測(cè)儀滿足檢測(cè)需求信息
- 常用表面粗糙度儀的分類、品牌和工作原理解析
- 英國(guó)Surtronic S116 泰勒霍普森粗糙度儀信息
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
-
德國(guó)BYK4568微型光澤度儀75°上海總代理 用微型光澤儀，您可以對(duì)任何材料進(jìn)行光澤測(cè)量 - 涂料、塑料或高光澤的金屬。測(cè)量范圍從啞光產(chǎn)品擴(kuò)展至鏡面這類反射高達(dá)了2000個(gè)光澤單位的產(chǎn)品表面，自動(dòng)校準(zhǔn)且無(wú)需額外校正。始終保持可靠的結(jié)果 - 符合標(biāo)準(zhǔn)
-
byk micro-gloss 4442 60度光澤度儀 光澤是評(píng)估一個(gè)表面時(shí)得到的視覺(jué)印象。直接反射的光越多，光澤的感覺(jué)越明顯。光澤儀及其操作規(guī)程必須標(biāo)準(zhǔn)化以便比較測(cè)量結(jié)果。照明入射角對(duì)結(jié)果的影響較大。為了清楚地區(qū)分從高光澤到低光澤的整個(gè)測(cè)量范圍，定義了3個(gè)不同的角度（光路），即3個(gè)不同的 光澤儀測(cè)量范圍. -
測(cè)厚儀byko-test cut厚度/粘性/硬度測(cè)試儀 篤摯儀器現(xiàn)貨代理的byko-test cut是一種多用途涂料測(cè)試儀器，用于測(cè)量涂料厚度，涂料粘附性和涂層硬度。BYKO-Cut Universal是一種便攜式儀器，可為實(shí)驗(yàn)室使用提供足夠的準(zhǔn)確性，但也可在建筑工地和車間使用。 是客戶服務(wù)技術(shù)人員和演示的理想選擇。 -
德國(guó)byko-test4200/4500測(cè)厚儀一鍵操作 byko-test4200/4500可測(cè)量鐵基和非鐵基底材上（4500）或僅鐵基底材（4200）上的膜層厚度。 該膜厚儀可以測(cè)量多種產(chǎn)品，在磁性和非磁性底材轉(zhuǎn)換的過(guò)程中不需要更換探頭或重新校標(biāo)，大屏 幕LCD顯示，可保留Z近一次測(cè)量數(shù)值10秒，使用極為方便。 -
byko-cut測(cè)厚儀德國(guó)制造BYK-Gardner byko-cut是一種通用的測(cè)試儀器，具有多種用途德國(guó)BYK生產(chǎn)制造，篤摯儀器代理銷售，該通用型干膜測(cè)厚儀用于測(cè)量金屬和非金屬基底上的涂料和涂層的干膜厚度，粘合力和硬度。 根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)切割表面，或者在60度照度下分別進(jìn)行縮進(jìn)，然后評(píng)估。 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D 3002，ASTM D 3359，DIN 50986，DIN 53151，DI
-
AG-4446 微型三角度光澤度儀BYK-Gardner 微型光澤儀特點(diǎn)： ·小巧且使用方便，甚至可將主機(jī)連同校準(zhǔn)底座一起放在工作服口袋中 ·自動(dòng)校準(zhǔn)-隨時(shí)可測(cè)量，按一個(gè)鍵即可校準(zhǔn)，菜單指導(dǎo)操作，測(cè)量結(jié)果無(wú)人為誤差 ·單次測(cè)量和統(tǒng)計(jì)模式，后者包括測(cè)量次數(shù)，平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差 ·記憶量大：999個(gè)讀數(shù)
